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GB/T 15653-1995 金属氧化物半导体气敏元件测试方法

时间:2024-05-19 06:36:28 来源: 标准资料网 作者:标准资料网 阅读:8945
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基本信息
标准名称:金属氧化物半导体气敏元件测试方法
英文名称:Measuring methods for gas sensors of metal-oxide semiconductor
中标分类: 电子元器件与信息技术 >> 电子元件 >> 敏感元器件及传感器
ICS分类: 电子学 >> 电子元件综合
发布部门:国家技术监督局
发布日期:1995-07-24
实施日期:1996-04-01
首发日期:1995-07-24
作废日期:1900-01-01
主管部门:信息产业部(电子)
归口单位:信息产业部(电子)
起草单位:电子工业部标准化研究所
出版社:中国标准出版社
出版日期:1900-01-01
页数:平装16开, 页数:12, 字数:19千字
适用范围

本标准规定了金属氧化物半导体气敏件性能参数测试方法的基本原理,没有规定这些方法在实际使用时的技术细节,测试时可按相应的详细规范的规定进行。本标准适用于金属氧化物半导体气敏件性能参数的测试,其他气敏件亦可参照使用。

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所属分类: 电子元器件与信息技术 电子元件 敏感元器件及传感器 电子学 电子元件综合
基本信息
标准名称:基本环境试验规程 第2部分:各种试验 试验Z/BFc:干热(高温)/正弦振动综合试验(热耗散和非热耗
英文名称:Basic environmental testing procedures-Part 2: Tests-Test Z/BFc: Combined high temperature/vibration(Sinusoidal) tests for both heat-dissipating and non-heat-dissipating specimen
中标分类: 医药、卫生、劳动保护 >> 医药、卫生、劳动保护综合 >> 技术管理
替代情况:参见GB/T 2423.35-1986
发布日期:1987-11-27
实施日期:1987-11-27
首发日期:1900-01-01
作废日期:1900-01-01
出版日期:1900-01-01
适用范围

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所属分类: 医药 卫生 劳动保护 医药 卫生 劳动保护综合 技术管理
【英文标准名称】:Methodsforchemicalanalysisoffinesiliconnitridepowdersforfineceramics
【原文标准名称】:精细陶瓷用氮化硅细粉末的化学分析方法
【标准号】:JISR1603-2007
【标准状态】:现行
【国别】:日本
【发布日期】:2007-06-20
【实施或试行日期】:2007-06-20
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonCeramics
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:この規格は,フアインセラミックス製造の原料として用いられる窒化けい素微粉末の化学分祈方法について規定する。
【中国标准分类号】:Q32
【国际标准分类号】:81_060_10
【页数】:46P;A4
【正文语种】:日语